Vom 26. bis 27. Juli 2010 fand am Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung (Prof. Schlichtmann) der Technischen Universität München ein Seminar mit dem dem Titel „Variability-induced challenges beyond the 22nm node“ statt. In mehreren Teilvorträgen hat Dr. Sani Nassif vom IBM Austin Research Laboratory ein breites Spektrum von aktuellen Problemen und von Trends im Hinblick auf Variabilität, ihre Auswirkungen auf die Funktionstüchtigkeit, ihre Modellierung für ganze Chips, bis hin zur Spannungsversorgung eines Chips und zur Lithographie abgedeckt. Etwa 40 Teilnehmer aus Hochschule und Industrie haben die umfangreichen und spannenden Ausführungen von Dr. Nassif gehört und diskutiert.